2004 년부터
2004 년부터
*고장 가격은 동일한 부분에 대한 것이지만 다른 배치 코드 일 수 있습니다.
** 당사의 가격에는 운송 비용이 포함되어 있지 않습니다.
당사의 X- 레이 사진 데이터베이스에는 신뢰할 수있는 소스의 구성 요소를위한 150k 이상의 사진이 있습니다.규정 준수 또는 불안에 대한 분석
데이터베이스에 부품이 있으면 제공 될 수 있습니다.이 서비스에는 추가로 US $ 5/Piece가 적용됩니다.
X- 선 검사는 X- 선 이미징 기술을 사용하여 테스트 객체의 내부 구조를 얻은 다음 테스트 객체를 깨지 않고 테스트 객체의 내부 정보를 관찰하는 것입니다.
주로 성품 판단 및 부품의 실패 분석에 사용됩니다.국제적으로 인정 된 칩 정품 판단 및 결함 분석 및 탐지 방법입니다.
X- 선 탐지 기술은 칩 정품 감지에서 빠른 속도, 비파괴 및 저렴한 비용의 장점을 가지고 있습니다.
칩 고장 감지 :
X- 레이 그림을 통해 칩의 내부 결함, 껍질, 파열, 공극 등을 시각적으로 관찰하고 칩 고장을 판단하는 데 도움이됩니다.
칩 정품 판단 :
진위는 테스트 조각의 X- 레이 다이어그램에서 프레임, 곡물, 납 와이어 및 기타 요소를 표준 칩과 비교하여 판단 할 수 있습니다.
Chip Authenticity Judgment 테스트에서, 테스트 조각의 X- 레이 이미지를 원래 표준 칩의 X- 레이 이미지와 비교하여 진위를 결정해야합니다.Chipsmall x-ray 칩 이미지 데이터베이스의 도움으로 기업이 샘플 비교 이미지를 구매할 수있는 시간 비용과 작업 기간을 절약하고 비용 절감 및 효율성 증가를 실현합니다.
Chipsmall X-ray 칩 이미지 데이터베이스, 모든 샘플은 원래 에이전트, 높은 안정성, 넓은 범위, 쉬운 쿼리, 경험을 환영합니다!
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